今朝在智妙手機測試中，凡是都是用射頻測試頭與手機主板上的射頻開關（或板端毗連器）毗連：射頻測試頭金屬內芯在彈簧的壓力下深切射頻開關（或板端毗連器）外部與射頻開關內金屬簧片（或板端毗連器金屬內芯）毗連導通；射頻測試頭內凹型剛性金屬外導體在彈簧的壓力下與射頻開關（板端毗連器）外圓金屬導體端面打仗導通。而在現實測試中，由于治具精度緣由，射頻測試頭常常在毗連進程中發生小幅度的偏斜，使得射頻測試頭外導體與射頻開關（或板端毗連器）外導體間并不是全部端面打仗，而僅僅是一點打仗，打仗靠得住性差，從而致使誤測率高，嚴峻影響測試效力和測試的精確性。我公司新更多...